iPhone Duo 耐用測試失守：IP68 未阻鉸鏈進塵
JerryRigEverything 最新耐用測試顯示，iPhone Duo 在沙塵環境下，灰塵可從多個位置進入鉸鏈，令協助機身閉合的磁鐵受影響。其後的彎折測試令內螢幕留下永久綠線，螢幕最終失去反應。
這對考慮摺疊手機的用戶有參考價值，但限制亦要先講清楚：這只是單一 YouTube 頻道的高強度測試，不足以代表一般使用壽命，更不能據此確認為普遍產品缺陷。
IP68 在鉸鏈上的現實考驗
iPhone Duo 標示 IP68 防塵，但測試結果顯示，這項標示至少未能在該測試的沙塵條件下，阻止粉塵經多個通道進入鉸鏈。對摺疊機而言，防塵難點不只在於機身內部：鉸鏈同時要承受反覆開合、活動部件之間的細小空隙，以及控制閉合手感的磁力結構。
因此，這次測試較合理的解讀是：IP68 可作為防護指標，卻不能單靠標示推斷鉸鏈在大量細塵下必定維持原有表現。尤其當灰塵已干擾磁鐵閉合，問題可能首先反映在合機手感、對位或異響，之後才未必會發展成可見損壞。
測試者 Zack Nelson 表示，他自七年前首代摺疊手機起一直進行同類測試，而多數產品能通過。不過，這是測試者對其歷次流程的比較，並非不同型號在相同日常使用環境下的完整耐用性排名。
內外螢幕的取捨
測試中，採用 Ceramic Shield 2 的外螢幕在莫氏硬度第 7 級才出現刮痕；內螢幕則在第 2 級已有刮痕。Nelson 同時肯定內螢幕的霧面 nano-texture 塗層，稱其可令刮痕痕跡不易察覺。
這組結果提醒用戶，霧面塗層改善的是觀感，並不等於內螢幕更耐刮。再配合彎折後出現綠線及失靈的結果，摺疊機的內螢幕仍是需要較小心處理的部件。
已購機用戶可留意甚麼
若已使用摺疊機，可定期留意以下變化：
- 開合時是否出現不尋常卡頓、阻力、異響，或合上後對位明顯改變。
- 鉸鏈附近及內螢幕摺痕位置有否持續亮線、閃爍、黑點或觸控失靈。
- 發現異常時，先以相片或影片記錄狀況，避免繼續反覆開合；再向購買渠道或 Apple 查詢檢查及保養安排。
現階段最值得追蹤的，是其他獨立測試能否重現鉸鏈進塵和內螢幕故障，以及 Apple 是否就測試結果或相關維修情況作出說明。
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參考來源
- MacRumors — iPhone Duo Fails JerryRigEverything's Dusty Durability Test — original report
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